You are hereStudium, Studijní předměty, Garantované obory studia, Začínáme studovat, Doporučená schémata studia, Zkušenosti absolventů, Témata závěrečných prací , Úspěchy našich studentů, Průvodce studiem, Aplikovaná fyzika, Přístrojová fyzika, Učitelství fyziky, Nanotechnologie, (Aplikovaná fyzika), (Přístrojová fyzika), (Nanotechnologie), (Učitelství fyziky), Pro uchazeče, Pro studenty, Absolventi, Počítačová fyzika

Studium, Studijní předměty, Garantované obory studia, Začínáme studovat, Doporučená schémata studia, Zkušenosti absolventů, Témata závěrečných prací , Úspěchy našich studentů, Průvodce studiem, Aplikovaná fyzika, Přístrojová fyzika, Učitelství fyziky, Nanotechnologie, (Aplikovaná fyzika), (Přístrojová fyzika), (Nanotechnologie), (Učitelství fyziky), Pro uchazeče, Pro studenty, Absolventi, Počítačová fyzika


Aplikovaná elektronika sticky icon

Course: Applied Electronics

Department/Abbreviation: KEF/APEL

Year: 2018 2019

Guarantee: 'Mgr. Milan Vůjtek, Ph.D.'

Annotation: Obtain knowledge about operation amplifiers, active filers and PID regulation.

Course review:
Extended applications fo ideal op-amp Real op-amp Operational network and feedback U/U, U/I, I/U and I/I amplifiers with real op-amp Aplication of analog circuits (analog multiplication and division, multiplexing) Active filters, digital filters Fundamentals of PID Simmulations in MultiSIM

 

SkriptaSkripta (PDF 817 KiB)

Studijní obor Aplikovaná fyzika sticky icon

V dnešní době, která je založena na intenzivním průmyslovém využívání poznatků vědy a techniky, je zapotřebí odborníků s širokým fyzikálním vzděláním, kteří jsou schopni tyto poznatky aplikovat v praxi, ať už přímo ve výrobních technologiích, nebo nepřímo v procesu kontroly a řízení výroby – metrologii. A právě takové odborníky by měl obor Aplikovaná fyzika vychovávat.

Pokročilé mikroskopické techniky

Course: Pokročilé mikroskopické techniky

Department/Abbreviation: KEF/NMIK

Year: 2018 2019

Guarantee: 'doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.'

Annotation: Light microscopy Near-field optical microscopy and selected super-resolution microscopic techniques. 4Pi microscopy, microscopy with structured illumination (SIM), microscopy using stimulated emission depletion (STED), and PALM, FPALM, STORM, methods for studying organic molecular formations. Electron microscopy TEM and SEM advanced techniques - TEM diffraction, TEM tomography, electron holography, HRTEM, WDS and EDS elemental chemical analysis using characteristic X-ray radiation. Combined scanning and transmission electron microscopy (STEM) technique to achieve high resolution (HRSTEM). Electron-Energy_Loss Spectrocopy (EELS) and Energy-Filtered TEM (EFTEM). EBSD methods for displaying polycrystalline material by backscattered electrons that yield high contrast polycrystalline grain grains and visualize high resolution local stress distribution and local deformation. Technique 4D EM - four-dimensional electron microscopy, ion microscopy, especially using He ions. Scanning Probe Microscopy (SPM) Scanning Tunneling Microscopy (STM), Atomic Force Microscopy (AFM) in Contact, Noncontact and Tapping modes, Magnetic Force Microscopy (MFM), Lateral Force Microscopy (LFM), Modulated Force Microscopy (FMM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Kelvin microscopy, conductivity microscopy, transverse force microscopy (TDFM) and other SPM clones for the study of nanomaterials and nanostructures. Methods of electron lithography and lithographic techniques using SPM (atom manipulation, chemical reaction initiated by STM, nanoshaving and nanografting, self-organization of nanostructures induced by SPM, local anodic oxidation (LAO), constructive nanolithography (CNL), charge record, Dip-pen, enzymatically assisted lithography, AFM thermal lithography of polymers, magnetic and ferroelectric lithography, Atom Probe Tomography for the study of solids, with the possibility of achieving 3D chemical analysis with atomic resolution.

 

Přednáška
Nanoskopie

(PDF 6,9 MiB)

Cvičení KEF/ME 6.a7.12.2017

Cvičení z mechaniky KEF/ME dne 6. a 7.12.2017

Cvičení KEF/MMF 5.12.2017

Cvičení KEF/MMF dne 5.12.2017

Ukázkové příklady

Zápočet z předmětu KEF/EL, ELN elektronika je tvořen písemným testem na počítání příkladů. V příloze jsou ukázkové příklady, které mohou být součástí testu.

Okruhy:

Elektronika pro nanotechnology

Course: Electronics

Department/Abbreviation: KEF/ELN

Year: 2018 2019

Guarantee: 'Mgr. Milan Vůjtek, Ph.D.'

Annotation: Student is familiarized with analog electronic, components and basic circuits, including op-amps. In the second part, logic circuits and microprocessors are presented.

Course review:
1. Fundamentals of electronics 2. Semiconductive devices 3. Analog systems 4. Logical systems 5. Microprocessors 6. Analog-digital and digital-analog converters 7. Electronical systems

OtázkyOtázky ke zkoušce (PDF 48 kiB)