You are hereStudium, Studijní předměty, Garantované obory studia, Začínáme studovat, Doporučená schémata studia, Zkušenosti absolventů, Témata závěrečných prací , Úspěchy našich studentů, Průvodce studiem, Aplikovaná fyzika, Přístrojová fyzika, Učitelství fyziky, Nanotechnologie, (Aplikovaná fyzika), (Přístrojová fyzika), (Nanotechnologie), (Učitelství fyziky), Pro uchazeče, Pro studenty, Absolventi, Počítačová fyzika

Studium, Studijní předměty, Garantované obory studia, Začínáme studovat, Doporučená schémata studia, Zkušenosti absolventů, Témata závěrečných prací , Úspěchy našich studentů, Průvodce studiem, Aplikovaná fyzika, Přístrojová fyzika, Učitelství fyziky, Nanotechnologie, (Aplikovaná fyzika), (Přístrojová fyzika), (Nanotechnologie), (Učitelství fyziky), Pro uchazeče, Pro studenty, Absolventi, Počítačová fyzika


Aplikovaná elektronika sticky icon

Předmět: Aplikovaná elektronika

Katedra/Zkratka: KEF/APEL

Rok: 2018 2019

Garant: 'Mgr. Milan Vůjtek, Ph.D.'

Anotace: Rozšířit poznatky o operačních zesilovačích, teorii zpětné vazby, o nelineárních obvodech s operačními zesilovači a o aktivních filtrech a PID regulaci.

Přehled látky:
Rozšíření základních zapojení s ideálním operačním zesilovačem Reálný operační zesilovač (typy OZ, vlastnosti, šumy, zásady pro práci s OZ) Operační síť a zpětná vazba Zapojení zesilovačů U/U, U/I, I/U a I/I s reálným OZ Aplikace analogových obvodů (analogové násobení a dělení, multiplexery atd.) Aktivní filtry, číslicové filtry Základy teorie regulace, PID regulace Simulace v programu MultiSIM

 

SkriptaSkripta (PDF 817 KiB)

Studijní obor Aplikovaná fyzika sticky icon

V dnešní době, která je založena na intenzivním průmyslovém využívání poznatků vědy a techniky, je zapotřebí odborníků s širokým fyzikálním vzděláním, kteří jsou schopni tyto poznatky aplikovat v praxi, ať už přímo ve výrobních technologiích, nebo nepřímo v procesu kontroly a řízení výroby – metrologii. A právě takové odborníky by měl obor Aplikovaná fyzika vychovávat.

Pokročilé mikroskopické techniky

Předmět: Pokročilé mikroskopické techniky

Katedra/Zkratka: KEF/NMIK

Rok: 2018 2019

Garant: 'doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.'

Anotace: Cílem předmětu je seznámit studenty navazujícího magisterského studia s pokročilými metodami světelné mikroskopie, elektronové mikroskopie a mikroskopie se skenující sondou, které v případě optické mikroskopie překonávají difrakční limit světla a u EM a SPM dosahují atomárních rozlišení, případně umožňují prostřednictvím litografických technik manipulovat s atomy nebo modifikovat povrchy. Předmět KEF/NMIK navazuje na předmět "Moderní mikroskopické metody" (KEF/MMM) z bakalářské etapy studia. V oblasti světelné mikroskopie bude představena optická mikroskopie v blízkém poli a vybrané superrozlišovací mikroskopické techniky. 4Pi mikroskopie, mikroskopie se strukturovaným osvětlením (SIM), mikroskopie využívající vyčerpání stimulovanou emisí (STED) a metody PALM, FPALM, STORM, pro studium organických molekulárních útvarů. V oblasti metod elektronové mikroskopie budou u základních metod EM (TEM a SEM) představeny pokročilé techniky - TEM difraktografie, TEM tomografie, elektronová holografie, HRTEM, WDS a EDS prvková chemická analýzu s využitím charakteristického rentgenového záření. Kombinovaná technika skenovací a transmisní elektronové mikroskopie (STEM) k dosažení vysokého rozlišení (HRSTEM). Electron-Energy_Loss Spectrocopy (EELS) a Energy-Filtered TEM (EFTEM). Metody EBSD pro zobrazení polykrystalického materiálu zpětně odraženými elektrony, které přináší vysoký kontrast zrn polykrystalického materiálu a zviditelňují rozložení vnitřního pnutí a lokální deformace s vysokým rozlišením. Bude nastíněna technika 4D EM - čtyřdimenzionální elektronové mikroskopie, která umožňuje pořídit záznam průběhu atomárních a molekulárních dějů ve všech třech prostorových dimenzích a navíc i v čase. Ve srovnání s elektronovou mikroskopií budou zmíněny přednosti iontové mikroskopie, zejména s využitím iontů He. Mikroskopie se skenující sondou (SPM) bude zahrnovat aplikace skenovací tunelové mikroskopie (STM), mikroskopie atomárních sil (AFM) v kontaktním, bezkontaktním i poklepovém režimu, mikroskopie magnetických sil (MFM), mikroskopie laterárních sil (LFM), mikroskopie modulovaných sil (FMM), mikroskopie elektrostatických sil (EFM), Kelvinova mikroskopie, vodivostní mikroskopie, mikroskopie příčných sil (TDFM) a dalších "klonů" SPM pro studium nanomateriálů a nanostruktur. Část přednášky bude věnována metodám elektronové litografie a litografickým technikám s využitím SPM (manipulace s atomy, chemické reakci iniciované STM, nanoshaving a nanografting, samoorganizace nanostruktur vyvolaná SPM, lokální anodická oxidace (LAO), konstruktivní nanolitografie (CNL), nábojový záznam, Dip-pen, enzymaticky asistovaná litografie, AFM termická litografie polymerů, magnetická a feroelektrická litografie, Jako nadstandardní metoda bude uvedena Atomová tomografie (Atom Probe Tomography) ke studiu pevných látek, s možností dosažení 3D chemické analýzy s atomárním rozlišením.

 

Přednáška
Nanoskopie

(PDF 6,9 MiB)

Cvičení KEF/ME 6.a7.12.2017

Cvičení z mechaniky KEF/ME dne 6. a 7.12.2017

Cvičení KEF/MMF 5.12.2017

Cvičení KEF/MMF dne 5.12.2017

Ukázkové příklady

Zápočet z předmětu KEF/EL, ELN elektronika je tvořen písemným testem na počítání příkladů. V příloze jsou ukázkové příklady, které mohou být součástí testu.

Okruhy:

Elektronika pro nanotechnology

Předmět: Elektronika

Katedra/Zkratka: KEF/ELN

Rok: 2018 2019

Garant: 'Mgr. Milan Vůjtek, Ph.D.'

Anotace: V rámci přednášky se student v seznámí s analogovou elektronikou, elektronickými součástkami a základními obvody, včetně operačních zesilovačů. V druhé části se seznámí s logickými obvody až po konstrukci mikroprocesorů. V poslední částí se seznámí s analogově digitálním a digitálně analogovým převodem.

Přehled látky:
1. Základy elektroniky: základní pojmy, obvodové veličiny, obvodové prvky a jejich vlastnosti, charakteristiky a parametry dvojpólů, zdroje napětí a proudu, rezistor, kondenzátor a cívka, nelineární dvojpóly, mnohapólové prvky - trojpóly, čtyřpóly a dvojbrany a jejich charakteristiky 2. Polovodičové prvky: základy fyziky polovodičů, PN přechod, dioda a další součástky s jedním přechodem, bipolární a unipolární tranzistory, další polovodičové součástky 3. Elektronické analogové systémy: usměrňovače, stabilizátory, modulátory, demodulátory, základní vlastnosti operačních zesilovačů, základní zapojení s ideálním operačním zesilovačem 4. Logické obvody: principy a základy Boolovy algebry, operátory, sestavování funkcí, kombinační logické obvody, sekvenční logické obvody, vybrané logické integrované obvody 5. Mikroprocesorová technika: koncept mikroprocesoru, vnitřní struktura, paměti, počítače 6. Analogově digitální a digitálně analogové převodníky: principy a vlastnosti 7. Elektronické systémy

OtázkyOtázky ke zkoušce (PDF 48 kiB)