KA5

Předmět: Základy nauky o materiálu 2

Katedra/Zkratka: SLO/ZNM2

Rok: 2016 2017

Garant: 'RNDr. Petr Schovánek'

Anotace: Získání přehledu o technických kovových i nekovových materiálech (včetně jejich moderních forem) a technologiích jejich výroby.

Přehled látky:
Tradiční technologie výroby technických materiálů ( železa a jeho slitin, hliníku, skla) Neželezné kovy a jejich slitiny (vlastnosti, použití, značení ) Slinuté kovové materiály Nekovové technické materiály - plasty - sklo - keramika Kompozitní materiály Krystalické materiály (monokrystal, polykrystal) Výroba monokrystalů Inteligentní materiály

Předmět: Fotonické nanostruktury 2

Katedra/Zkratka: SLO/BFN2

Rok: 2016 2017

Garant: 'Ing. Jaromír Křepelka, CSc.', 'doc. RNDr. Jan Peřina, Ph.D.'

Anotace: Cílem je získat základní znalosti o nelineárních (parametrických) procesech a jejich využití pro konstrukci fotonických nanostruktur, především nelineárních vrstevnatých struktur s porozuměním jejich kvantově statistickým projevům.

Přehled látky:
- Nelineární polarizace a popis nelineárních parametrických procesů. Druhá harmonická a subharmonická, Ramanův a Brillouinův rozptyl. - Různé druhy fotonických nanostruktur. Nelineární jevy spojené s povrchovými stavy. - Metody popisu nelineárních jevů ve strukturách s výrazně lokalizovaným optickým polem. Klasický a kvantový popis. - Spontánní sestupná frekvenční konverze v nelineárních vrstevnatých, periodicky-pólovaných a vlnovodných strukturách. Generace fotonových párů, kvantová provázanost fotonových párů. Vybrané aplikace fotonových párů. - Statistické vlastnosti světla. Generace stlačeného světla v moderních fotonických strukturách. Vlastní módy s ohledem na stlačení kvantových fluktuací. Distribuovaná zpětná vazba a podmínky na maximální zesílení nelineární interakce. - Fotopulzní statistiky ve spontánní i stimulované sestupne frekvenční konverzi.

Předmět: Fyzika pevných látek

Katedra/Zkratka: SLO/PL

Rok: 2016 2017

Garant: 'doc. Mgr. Jan Soubusta, Ph.D.'

Anotace: Podat stručný přehled základů fyziky pevných látek. Postupuje se od popisu geometrie uspořádání krystalů. Pravidelné uspořádání umožňuje popis pomocí energetických pásů a elementárních excitací jako jsou fonony, plazmony, excitony.

Přehled látky:
1. Prostorové uspořádání krystalu, krystalová mřížka, primitivní buňka. 2. Difrakce na krystalu, reciproká mřížka, Braggův zákon rozptylu, Brillouinova zóna. 3. Krystalová vazba, iontové, kovalentní, kovové krystaly, krystaly inertních plynů. 4. Kmity mřížky, akustické, optické fonony, disperzní závislosti, tepelné vlastnosti. 5. Kovy, Fermiho plyn volných elektronů, tepelné a elektrické vlastnosti. 6. Energetické pásy, Blochův teorém, Blochovy funkce, ústřední rovnice. 7. Polovodiče, disperzní závislosti reálných materiálů (Si, Ge, GaAs). 8. Fermiho plochy v kovech, přiblížení téměř volných elektronů, metoda těsné vazby. 9. Kvazičástice, plazmony, polaritony, excitony. 10. Pokročilé kapitoly, supravodivost, elektrické a magnetické vlastnosti.

Učebnice (PDF, 14 MiB)

Předmět: Úvod do exp. fyziky vysokých energií

Katedra/Zkratka: SLO/EFVE

Rok: 2016 2017

Garant: 'prof. Jan Řídký, DrSc.'

Anotace: - Úvod do standardního modelu elementárních částic. - Typy experimentu ve fyzice elementárních částic. - Detekční metody. - Typy detekčních aparatur. - Vyhodnocování měření: elementy z počtu pravděpodobnosti. Metoda Monte Carlo. - Současné aplikace ve světě.

Přehled látky:
1. "Cihly a malta, ze kterých je složen náš svět": - Základní objevy (elektron, jádro, neutron, pozitron, mion, ...). - Systematika částic. - Současný stav našich znalostí ? základní kameny hmoty a jejich interakce. - Partony, hluboce nepružný rozptyl. - Standardní model. - Dosud nezodpovězené otázky. 2. Interakce částic s prostředím: - Průchod nabitých částic prostředím v závislosti na energii. - Ionizační, radiační ztráty, Čerenkovské záření, přechodové záření, mnohonásobný rozptyl. - Elektromagnetické a hadronové spršky. 3. Detektory: - Metody detekce částic, vybrané typy detektorů: scintilátory, Čerenkovské detektory, dráhové detektory, kalorimetry. 4. Urychlovače částic: - Principy urychlování, používaná zařízení, lineární a kruhové urychlovače, pevný terč a vstřícné svazky. 5. Velké současné a budoucí experimenty na urychlovačích: - Experimenty na urychlovačích LEP a Tevatron, nejdůležitější výsledky.

Předmět: Prakt. z exp. tech. a měř. metody 2

Katedra/Zkratka: SLO/PEXT2

Rok: 2016 2017

Garant: 'prof. RNDr. Miroslav Hrabovský, DrSc.'

Anotace: Cílem je seznámit studenty s vybranými optickými měřicími metodami v praxi a jejich aplikačním potenciálem.

Přehled látky:
ANALÝZA POVRCHU MATERIÁLU - Měření tvaru a prostorové struktury povrchu strojírenských součástí a optických prvků pomocí kontaktního drsnoměru Taylor-Hobson TALYFORM - Stanovení drsnosti povrchu leštěných součástí pomocí skaterometru CASI - Využití přenosného drsnoměru pro optimalizaci technologie optických prvků HODNOCENÍ OPTICKÝCH PRVKŮ - Optické metody pro vyhodnocování tvaru a rozměrových parametrů zrcadlových ploch; sférointerferometr Meopta - Mechanické měřicí metody pro kontrolu geometrických tvarů součástí - Optická přenosová funkce, objektivní metoda hodnocení kvality optických systémů, přístroj EROS - Metody měření reflektivity optických povrchů a tenkých vrstev - Měření pomocí optického goniometru INTERFEROMETRY PRO MĚŘICÍ ÚČELY - Podmínky vzniku iterferenčního jevu, viditelnost interferenčních proužků, měření deformace plochy - Typy interferometrů a jejich využití v měřicích metodách. Michelsonův interferometr pro měření malých posuvů - Interference v bílém světle MIKROSKOPY - Mikroskop jako přístroj pro měření malých vzdáleností - Zobrazení struktury technických povrchů pomocí laserového konfokálního mikroskopu Olympus LEXT - Universální mikroskop Zeiss s mikrotvrdoměrem

Předmět: Elektronická měření

Katedra/Zkratka: KEF/ELMEA

Rok: 2016 2017

Garant: 'Mgr. Milan Vůjtek, Ph.D.'

Anotace: Úvod do problematiky elektronických měření, měření jednotlivýc veličin, konstrukce elektronických měřicích přístrojů.

Přehled látky:
* Úvod do předmětu Elektronická měření - druhy elektronických měřících přístrojů, měřící metody, přesnost měření, chyby měřících přístrojů a metod měření. * Měření stejnosměrných a střídavých napětí - analogové a digitální měřící přístroje, selektivní mikrovoltmetry a milivoltmetry, širokopásmové , úzkopásmové, nízkofrekvenční a vysokofrekvenční voltmetry, voltmetry pro měření maximálních hodnot, impulsní voltmetry a speciální voltmetry. * Měření stejnosměrných a střídavých proudů - základní principy měření proudu, analogové a digitální měřící přístroje, typy usměrňovačů, typy bočníků, kapacitní děliče proudu, transformátorový dělič proudu, proudová sonda. * Osciloskopy - typy osciloskopů, principy obrazovek, principy analogových a digitálních osciloskopů, typy paměťových osciloskopů, jednokanálové a vícekanálové osciloskopy, metoda postupného vzorkování signálu, osciloskopické měření časových intervalů a amplitud. * Měření časových intervalů a period - analogové a digitální metody měření, měření jednokanálové a dvoukanálové, měření period, noniový čítač. * Měření frekvence - můstkové kmitočtoměry, rezonační kmitočtoměry, záznějové kmitočtoměry, metody číslicových kmitočtoměrů, měření poměru dvou kmitočtů. * Fázoměry - principy měření fázového posuvu, impulzové fázoměry, kompenzační fázoměry, digitální fázoměry, měřiče okamžitého fázového posuvu. * Měření výkonu - průchozí watmetry, nepřímé metody měření výkonů pomocí tří voltmetrů nebo ampermetrů, watmetry s kvadrátory, watmetry s modulační násobičkou, watmetry s Halovou sondou, kalorimetrické watmetry, digitální watmetry. * Měření elektrických vlastností součastek - měření odporu a vodivosti, přímoukazující ohmetry, analogové teraohmetry, číslicové voltohmetry, můstkové měření odporu, servomechanické vyvažování můstků, autoamtické číslicové můstky, měřiče kapacity a indukčnosti, rezonanční měřiče C a L, můstkové měřiče C a L, přímoukazující měřiče C, měřič C impulsového typu, měření c s převodem na změnu frekvence, měření impedance, můstkové měření impedance. * Měření dynamických vlastností obvodu - měření frekvenčních a fázových charakteristik, skupinové zpoždění, měření přechodových charakteristik, analyzátory frekvenčního spektra. * Syntézátory - syntézátor přímý (aditivní), generátory s nepřímou syntézou, princip fázového závěsu