You are hereTVY

TVY

warning: Use of undefined constant is_null - assumed 'is_null' (this will throw an Error in a future version of PHP) in /var/www/aphys/sites/all/modules/stag/stag.module on line 506.

Předmět: Tenké vrstvy

Katedra/Zkratka: SLO/TVY

Rok: 2021

Garant: 'Ing. Jaromír Křepelka, CSc.'

Anotace: Cílem předmětu je seznámit se se základními optickými vlastnostmi soustav složených z tenkých izotropních, homogenních (případně nehomogenních) vrstev z dielektrických i kovových materiálů a jejich aplikacemi. Pozornost je věnována také vlastnostem ideálních tlustých vrstev a jejich kombinacím se soustavami tenkých vrstev, a také vrstvám anizotropním. Teoretický základ vychází z řešení Maxwellových rovnic pro rovinnou vlnu, z nichž jsou odvozeny formule pro transformaci tečných složek intenzity elektrického a magnetického pole dovolující definovat měřitelné makroskopické parametry, odraznost, propustnost a absorbci. Jsou diskutovány teoreticky zajímavé problémy, jako např. princip reverzibility, princip ekvivalence symetrické soustavy tenkých soustavy, chování vrstev v částečně koherentním světelném poli, barevné efekty na tenkých vrstvách, vztah periodických tenkých vrstev k fotonickým krystalů a vlnovodným strukturám aj. Jsou uvedeny příklady praktických návrhů základních struktur, jako jsou anizotropní soustavy, vysoce odrazné soustavy, úzkopásmové filtry a polarizační děliče.

Přehled látky:
Vlastnosti tenkých vrstev, metody vytváření tenkých vrstev a jejich kontroly. Šíření elektromagnetického pole v izotropním nehomogenním prostředí, řešení vlnové rovnice v homogenním izotropním prostředí, maticový popis soustav tenkých vrstev, transformace pole a přenos energie v soustavách tenkých vrstev, princip reverzibility. Příklady: rozhraní dvou prostředí, jedna tenká vrstva, jedna tlustá vrstva, systémy tenkých a tlustých vrstev, vrstva v částečně koherentním světle, pole uvnitř soustavy tenkých vrstev, symetrické soustavy, periodické struktury, antireflexní struktury, MacNeillův polarizátor, Fabryho-Perotův filtr. Základy vyhodnocení elipsometrických měření Anizotropní vrstevnaté prostředí.