OMVT

Předmět: Optické metody ve vědě a technice

Katedra/Zkratka: OPT/OMVT

Rok: 2020

Garant: 'RNDr. Ing. Jan Podloucký'

Anotace: Měření spektrálních vlastností optického záření

Přehled látky:
1. Měření spektrálních vlastností optického záření Hranolová spektroskopie, mřížková spektroskopie, fourierovská spektroskopie. 2. Měření polarizačních a koherenčních vlastností světla Zjišťování stavu polarizace, měření stupně polarizace, měření časové a prostorové koherence. 3. Měření vzdáleností Laserový interferometr, optický radar, metody modulovaného svazku. 4. Měření rychlostí optickými dopplerovskými metodami. 5. Měření neoptických povrchů, moiré techniky Projektivní topografie, projektivní moiré topografie, holografická topografie. 6. Využití koherenční zrnitosti Vznik hoherenční zrnitosti (speklu), speklová interferometrie, proužky na povrchu předmětu, proužky ve spektru povrchu předmětu. 7. Holografická interferometrie Holografická interferometrie pomocí dvojexpozice, interferometrie v reálném čase, interferometrie s časovým středováním, aplikace. 8. Využití prostorové filtrace Princip prostorové filtrace, masky používané pro filtraci, Vander Lugtův korelátor, korelátor pro společnou transformaci. 9. Optické komunikace Komponenty optické vláknové trasy, modulace, multiplexování, vazební členy, digitální komunikační systém. 10. Vláknové senzory Klasifikace vláknových senzorů, vlastní (intrinsic) a nevlastní (extinsic) senzory, vláknové gyroskopy. 11. Demonstrace v laboratoři Postupně budou ukázány: moiré technika, koherenční zrnitost a holografická interferometrie.