You are hereOMVT
OMVT
Předmět: Optické metody ve vědě a technice
Katedra/Zkratka: OPT/OMVT
Rok: 2020
Garant: 'RNDr. Ing. Jan Podloucký'
Anotace: Měření spektrálních vlastností optického záření
Přehled látky:
1. Měření spektrálních vlastností optického záření
Hranolová spektroskopie, mřížková spektroskopie, fourierovská spektroskopie.
2. Měření polarizačních a koherenčních vlastností světla
Zjišťování stavu polarizace, měření stupně polarizace, měření časové a prostorové
koherence.
3. Měření vzdáleností
Laserový interferometr, optický radar, metody modulovaného svazku.
4. Měření rychlostí optickými dopplerovskými metodami.
5. Měření neoptických povrchů, moiré techniky
Projektivní topografie, projektivní moiré topografie, holografická topografie.
6. Využití koherenční zrnitosti
Vznik hoherenční zrnitosti (speklu), speklová interferometrie, proužky na povrchu
předmětu, proužky ve spektru povrchu předmětu.
7. Holografická interferometrie
Holografická interferometrie pomocí dvojexpozice, interferometrie v reálném čase,
interferometrie s časovým středováním, aplikace.
8. Využití prostorové filtrace
Princip prostorové filtrace, masky používané pro filtraci, Vander Lugtův korelátor,
korelátor pro společnou transformaci.
9. Optické komunikace
Komponenty optické vláknové trasy, modulace, multiplexování, vazební členy,
digitální komunikační systém.
10. Vláknové senzory
Klasifikace vláknových senzorů, vlastní (intrinsic) a nevlastní (extinsic) senzory,
vláknové gyroskopy.
11. Demonstrace v laboratoři
Postupně budou ukázány: moiré technika, koherenční zrnitost a holografická
interferometrie.