You are hereOMM

OMM


Předmět: Optické měřicí metody

Katedra/Zkratka: OPT/OMM

Rok: 2017

Garant: 'prof. RNDr. Zdeněk Hradil, CSc.', 'RNDr. Ing. Jan Podloucký'

Anotace: Základní metody metodami měření optických systémů, zdrojů a detektorů.

Přehled látky:
1. Základní optické prvky, zařízení a přístroje laboratoře pro optická měření. 2. Zdroje a detektory optického záření, fotometrické veličiny, jejich jednotky a měření. 3. Metody měření základních parametrů optických materiálů, index lomu, disperze, propustnost. 4. Měření délek a úhlů optickými metodami, interferometrie. 5. Měření kvality a tvarových parametrů optických povrchů, poloměr křivosti, rovinatost. 6. Měření základních parametrů optických prvků a optických soustav, měření ohniskové vzdálenosti. 7. Základní optické přístroje, měření zvětšení, omezení paprskových svazků. 8. Měření kvality zobrazovacích soustav, rozlišovací mez, aberace. 9. Měření polarizačního stavu světla, metody získání polarizovaného světla. 10. Měření fotometrických charakteristik optických materiálů, prvků a soustav. 11. Měření kvality zobrazovacích soustav. Funkce obrazu bodu, funkce optického přenosu, funkce přenosu modulace.