OMM

Předmět: Optické měřicí metody

Katedra/Zkratka: OPT/OMM

Rok: 2011

Garant: 'Mgr. Tomáš Medřík'

Anotace: 1. Základní optické prvky a zařízení laboratoře pro optická měření. 2. Zdroje a detektory optického záření, základní charakteristiky optických systémů. 3. Metody měření základních parametrů optických materiálů, index lomu, disperze, propustnost. 4. Měření délek a úhlů optickými metodami, interferometrie. 5. Měření kvality a tvarových parametrů optických povrchů, poloměr křivosti, rovinatost. 6. Měření základních parametrů optických prvků a optických soustav, měření ohniskové vzdálenosti. 7. Základní optické přístroje, měření zvětšení, omezení paprskových svazků. 8. Měření kvality zobrazovacích soustav, rozlišovací mez, aberace. 9. Měření polarizačního stavu světla, metody získání polarizovaného světla. 10. Měření fotometrických charakteristik optických materiálů a prvků. 11. Měření spektrálních vlastností světla.

Přehled látky:
1. Základní optické prvky a zařízení laboratoře pro optická měření. 2. Zdroje a detektory optického záření, základní charakteristiky optických systémů. 3. Metody měření základních parametrů optických materiálů, index lomu, disperze, propustnost. 4. Měření délek a úhlů optickými metodami, interferometrie. 5. Měření kvality a tvarových parametrů optických povrchů, poloměr křivosti, rovinatost. 6. Měření základních parametrů optických prvků a optických soustav, měření ohniskové vzdálenosti. 7. Základní optické přístroje, měření zvětšení, omezení paprskových svazků. 8. Měření kvality zobrazovacích soustav, rozlišovací mez, aberace. 9. Měření polarizačního stavu světla, metody získání polarizovaného světla. 10. Měření fotometrických charakteristik optických materiálů a prvků. 11. Měření spektrálních vlastností světla.