EM

Předmět: Elektronická měření

Katedra/Zkratka: OPT/EM

Rok: 2011

Garant: 'RNDr. František Petráš'

Anotace: Měření EM charakteristik

Přehled látky:
1.Měření charakteristik bipolárního tranzistoru. 2.Měření charakteristik unipolárního tranzistoru. 3.Určení náboje hradla při spínání tranzistorů MOSFET. 4.Paralelní spojování výkonových tranzistorů MOSFET. 5.Specielní aplikace OZ. 6.Diferenciální zesilovač s OZ. 7.Vzorkovací zesilovač s OZ a tranzistory JFET a MOSFET. 8.Syntetická indukčnost s OZ. 9.Měření charakteristik optronu. 10.Krystalový oscilátor s obvodem TTL a CMOS. 11.Krystalový oscilátor v režimu vyšší harmonické. 12.Volně kmitající lavinový generator.