AOM

Předmět: Aplikovaná optická měření

Katedra/Zkratka: OPT/AOM

Rok: 2011

Garant: 'RNDr. Ing. Jan Podloucký'

Anotace:

Přehled látky:
1. Měření základních světelných veličin: svítivost, osvětlení, světelný tok, jas, fotometrie a radiometrie 2. Měření zdrojů světla - spektrální složení, spektroradiometrie, kolorimetrie, koherence, polarizační stav. Měření parametrů laserových svazků. 3. Měření detektorů světla - citlivost, spektrální charakteristika, kmitočtová charakteristika, šum. 4. Optická měření ve strojírenství - měření délek, úhlů, rovinností, souosostí. 5. Interferenční měření délek a měření odvozená - úhlová měření, měření rychlostí, měření vibrací. 6. Interferenční měření homogenity, vizualizace fyzikálních polí. 7. Polarizační měření, fotoelasticimetrie. 8. Využití koherenční zrnitosti. 9. Metoda moiré a její uplatnění. 10. Měření v geodesii a v dálkovém průzkumu Země. 11. Fotometrická a interferometrická měření v astronomii. 12. Optická měření v chemii, biologii a lékařství - spektrální, kolorimetrické a chromatografické metody.