You are herePGSSO
PGSSO
Předmět: Mikroskopie skenující sondou a její apl.
Katedra/Zkratka: KEF/PGSSO
Rok: 2021
Garant: 'doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.'
Anotace: Rastrovací tunelovací mikroskopie - STM, AFM. MFM, LFM, SPM, aplikace.
Přehled látky:
Skenovací tunelová mikroskopie - STM, princip mikroskopie atomárních sil. AFM, kontaktní režim AFM, nekontaktní režim AFM, periodický režim AFM, MFM-mikroskopie magnetických sil, LFM-mikroskopie příčných sil, další mikroskopické techniky využívající skenující sondy (SPM), SPM-nástroj pro analýzu povrchů, prostředí SPM, skener, konstrukce skeneru, vady skeneru, softwarová korekce, hardwarová korekce, test linearity skeneru, raménka s hroty, vady obrazu, konvoluce hrotu a povrchu, zpětnovazební artefakty, možnosti obrazové analýzy, testování artefaktů, aplikace.