You are herePGSRM

PGSRM


Předmět: Rastr. sond. mikroskopie a její aplikace

Katedra/Zkratka: KEF/PGSRM

Rok: 2019

Garant: 'doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.'

Anotace: Rastrovací tunelovací mikroskopie. AFM, SPM-nástroj pro analýzu povrchů. aplikace.

Přehled látky:
Rastrovací tunelovací mikroskopie - STM, princip mikroskopie atomárních sil ? AFM, kontaktní režim AFM, nekontaktní režim AFM, periodický režim AFM, MFM-mikroskopie magnetických sil, LFM-mikroskopie příčných sil, další mikroskopické techniky využívající skenující sondy (SPM), SPM-nástroj pro analýzu povrchů, prostředí SPM, skener, konstrukce skeneru, vady skeneru, softwarová korekce, hardwarová korekce, test linearity skeneru, raménka s hroty, vady obrazu, konvoluce hrotu a povrchu, zpětnovazební artefakty, možnosti obrazové analýzy, testování artefaktů, aplikace.