You are hereNMT

NMT


Předmět: Nanometrologie

Katedra/Zkratka: KEF/NMT

Rok: 2017

Garant: 'Mgr. Milan Vůjtek, Ph.D.'

Anotace: Studenti získají základní informace o metrologii, standardizaci obecně a speciálně o metrologii nanostruktur, převážně v oblasti délkové nanometrologie.

Přehled látky:
Metrologie, standardizace, nejistoty, metrologická návaznost Délková nanometrologie - problémy spojené s malými rozměry, metrologické AFM, standardy, vyhodnocování, popis povrchů Nanometrologie úhlů, hmotnosti, síly a dalších veličin Kvantové etalony základních fyzikálních veličin